DSpace Kurumsal Arşivi

Characterization of PdAu thin films on oxidized silicon wafers: interdiffusion and reaction 

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.author Avcı, Recep
dc.contributor.author Yalçın, Şenay
dc.date.accessioned 2017-04-25T10:56:37Z
dc.date.available 2017-04-25T10:56:37Z
dc.date.issued 2005
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/123456789/1194
dc.language.iso en tr_TR
dc.publisher Bahçeşehir Üniversitesi Fen Edebiyat Fakültesi tr_TR
dc.title Characterization of PdAu thin films on oxidized silicon wafers: interdiffusion and reaction  tr_TR
dc.type Article tr_TR


Bu öğenin dosyaları

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster